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日本Takano PV Wafer/Cell裂纹检测系统
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产品: 浏览次数:54日本Takano PV Wafer/Cell裂纹检测系统 
品牌: 日本Takano
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最后更新: 2024-02-19 17:36
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  日本Takano PV Wafer/Cell裂纹检测系统
  该设备使用激光束快速检查太阳能电池(PV、光伏)晶片和电池片上和内部的裂纹。它还可以在不受晶界图案干扰的情况下检测多晶硅。这种独特的检测系统将成为裂纹趋势控制、良率提升等工艺控制项目不可替代的设备。
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